États des diffractomètres:
- KAPPA – En opération
- SMART – Pas en opération
Les experts œuvrant pour ces plateformes offrent un service d’analyse de diffraction des rayons-X pour cristaux simples (SCXRD), diffraction des Rayons-X par les poudres (PXRD) et fluorescence par rayons-X; trois techniques complémentaires couramment utilisées par les chercheurs œuvrant dans les domaines de la chimie, de la biochimie, de la physique, de la géologie, de la minéralogie et de l’ingénierie.
tél. (613) 562-5800 poste 6664
Complexe STEM, pièce 028A
Université d’Ottawa
150 Louis Pasteur
Ottawa, ON, Canada, K1N 6N5
tél. (613) 562-5800 poste 1488
jeffrey.ovens@uottawa.ca
STM 405